真空兼容黑体源 SC-ZK系列
产品介绍
用于空间和地球辐射模拟的光学地面支持设备
热交换的原理适用于不同的应用,例如航天成像器的特征和辐射校准以及红外传感器的非均匀校正。
我们的真空黑体将传统红外参考源的性能与特定功能结合在一起,以便在低温或环境温度下的真空室内运行。它们可以在超大的温度范围内发射,并以最高的精度进行设置和控制,从而模拟太空和地球辐射,用于星载红外成像仪的测试和校准。
用于空间和地球辐射模拟的光学地面支持设备
热交换的原理适用于不同的应用,例如航天成像器的特征和辐射校准以及红外传感器的非均匀校正。
我们的真空黑体将传统红外参考源的性能与特定功能结合在一起,以便在低温或环境温度下的真空室内运行。它们可以在超大的温度范围内发射,并以最高的精度进行设置和控制,从而模拟太空和地球辐射,用于星载红外成像仪的测试和校准。
真空兼容的黑体头连接到位于外部新一代控制器。 通过对辐射和传导损耗的优化控制,可以确保最高的调节稳定性。得益于黑体特定表面结构上的真空兼容涂层,可以获得高达0.999的高发射率。
在航空航天工程领域,光学系统的验证和可靠性至关重要,真空兼容的黑体起着至关重要的作用。其应用范围不仅限于标准测试环境,还可用于优化光学地面支持设备 。该设备对于光学系统的对准、校准和验证至关重要,它极大地受益于真空兼容黑体提供的精度和多功能性。这种集成确保了星载仪器的光学元件在太空中遇到的挑战性条件下发挥最佳性能。
设备特点
* 扩展面积可达 1200×1200 mm
* 温度范围从 30K 到 423K
* 以 ℃、K 为单位实时显示温度数据
* 材料和组装程序与洁净室和真空条件兼容,符合 ISO-5 清洁度标准
* 通过精细准确的功率控制实现快速响应时间和高稳定性
* 高热均匀性和发射率
* 内置测试设备
SC-ZK系列技术参数表
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超低温点源黑体辐射源 |
低温恒温/变温光谱仪标定黑体 |
真空低温装校大面源黑体定标系统 |
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温度范围:30K~+300K; 显示分辨率:0.01K; 温度稳定度:±0.03K; 发射率:≥0.994; 控制精度:0.01K 辐射口径:1mm |
低温恒温黑体 发射率发射率:0.99; 温度范围:100K; 开口:20 cm×20 cm以上 变温黑体 发射率:0.99; 温度范围:250K-400K; 开口:20 cm×20 cm以上 |
温度范围:100K~450K 口径:1000x1200mm 发射率:0.999 黑体采用G-M制冷机降温,GM制冷机可实现≤20K的温度。 |
应用案例
模拟太空和地面辐射,以测试和校准太空红外传感器

产品详情
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